Marmara Üniversitesi
Marmara Üniversitesi Eğitim-Öğretim Bilgi Sistemi

Malzemelerin yapıları ile özellikleri arasındaki ilişkilerin tanımlanması Malzeme Bilimi ve Mühendisliğinin temel yapıtaşlarından birisidir. Bu alan teknolojik gelişme ile birlikte yeni geliştirilen analiz yöntem ve teknikleri ile hızlı bir gelişim içerisindedir. Bu ders kapsamında temel mikroyapısal karakterizasyon tekniklerindeki gelişmeler ve malzemelerin yüzey-performans ilişkilerinin belirlenmesinde kullanılan modern yüzey analiz teknikleri anlatılacaktır.

-

Malzeme karakterizasyon tekniklerinin sınıflandırılması ve anlatımı X-ışınları yöntemleri (Kristal yapı analizleri. X-ışınlrı yönetmeleriyle faz ve elementel analizler). Taramalı ve geçirimli Elektron Mikroskobisinin (SEM ve TEM) temel ilkeleri ve çalışma prensipleri, bileşenlerinin incelenmesi FTIR analizi temel ilkeleri, çalışma prensibi, bileşenlerinin incelenmesi XRF analizi temel ilkeleri, çalışma prensibi, bileşenlerinin incelenmesi Elektroeğirme Fiziksel testler (Yüzey gerilimi, Viskozitometre, Yoğunluk, Sıvıların elektrik iletkenliği) Piknometre

Sözlü Sunum, Uygulama, Videolu anlatım

Yok

Türkçe

J. J. Goldstein, D. E. Newbury, P. Echlich, D. C. Joy, C. Fiori, E. Lifshin, "Tarama Elektronu Mikroskopi ve X-ışını Mikroanalizi ", Plenum Press, 2. Baskı, New York, 1981 2. B. D. Cullity, "X-ışını Kırınımı Elemanları" Addison-Wesley, 1978. 3. D. B. Willimas ve C. B. Carter, İletim Elektron Mikroskopisi I, II, III, IV, Plenum Press, Yeni York - Londra, 1996. 4. Leonard C. Feldman, James W. Mayer, Yüzey ve ince film analizinin temelleri, New York: Kuzey Hollanda, 1986. 5. Yüzey analiz yöntemleri / ed. A.W. Czanderna, Amsterdam: Elsevier, 1989. 6. Briggs, David, XPS ve statik SIMS ile polimerlerin yüzey analizi, New York: Cambridge Üniversite Basın, 1998 7. Pratik yüzey analizi / ed. David Briggs, M.P. Seah, 2. baskı, Chichester: Wiley, c1990- 8. Malzemelerin X-ışını karakterizasyonu / ed. Eric Lifshin, Weinheim: Wiley-VCH, c1999

Yok