Marmara Üniversitesi
Marmara Üniversitesi Eğitim-Öğretim Bilgi Sistemi

Bu dersde, malzeme karakterizasyonunda kullanılan x-ışınlarının ve elektron demetinin katı malzemelerle etkileşiminin temelleri incelenecektir. XRD tekniği detaylı olarak açıklanacak ve SEM, TEM, XRF ve FTIR teknikleri genel hatlarıyla ele alınacaktır.

-

X-ışınlarının özellikleri, kristal geometrisi, x-ışınları ve elektron difraksiyonu, deneysel metotlar (Laue ve toz fotoğrafları, difraktometre ve spektrometre ölçümleri), uygulamalar (kristal yapı tayini, hassas latis parametresi ölçümü, x-ray difraksiyonuyla kimyasal analiz vd), SEM, TEM ve elektron mikroskobunda kimyasal analizin prensipleri, XRF ve FTIR.

Ders notları, dijital projektör ve tepegöz, sınavlar, ödevler ve malzeme karakterizasyonu laboratuarında malzeme karakterizasyonuna yönelik pratik bilgiler.

Yok

İngilizce

Elements of X-ray Diffraction, by B.D. Cullity and S.R. Stock, 3rd Ed., Prentice Hall, 2001. Electron Microscopy and Analysis, by P.J. Goodhew and F.J. Humphreys, 2nd Ed., Taylor & Francis, 1988.

-

• Difraksiyon metotlarını ve mikroyapısal karakterizasyonu malzeme bilimine ve mühendisliğine uygulama becerisi
• Başta XRD olmak üzere taramalı elektron mikroskobu gibi malzeme karakterizasyonunda uygulanan standart analiz tekniklerinin işletimine yönelik bilgileri kazanım
• X-ışınları ve mikroyapısal karakterizasyon metotlarıyla ilgili bilgilerini kullanarak malzeme analizine yönelik problemleri çözme becerisi
• Modern difraksiyon veritabanını kullanarak difraksiyon problemlerini çözme
• Haftalık raporlama yoluyla yazarak iletişim kurma becerisi